analytica 2018布鲁克推出FT-IR及XRF新品
分析测试百科网讯 2018年4月10日，在德国开幕的analytica 2018展会上，布鲁克推出两款新品——研究级的新型INVENIO傅立叶变换红外（FT-IR）光谱仪，以及新型CTX X射线荧光（XRF）元素分析仪。
INVENIO是用于前沿研发应用的VERTEX 70 FT-IR的后继产品。新型的INVENIO将许多创新技术与成熟的Vertex 70技术相结合，例如独特的FM技术，可同时进行中远红外光谱分析。新的MultiTect技术允许控制多达五个内部检测器，覆盖从远红外到Vis / UV的光谱范围。DigiTect探测器插槽可为更多探测器提供更多的灵活性。智能INVENIO光束路径进一步提高了光通量和光谱灵敏度。
除了性能和灵活性之外，INVENIO的一个主要目标是简化研究用户的体验。集成式触摸面板可为研发应用程序提供直观的配置设置和工作流程，系统也可切换至笔记本电脑操作。Transit通道可以轻松进行透射测量，无需从样品室中取出实验。
INVENIO是一款智能光谱仪，具有许多令人兴奋的功能，与其他研究级FT-IR不同。其中包括带电磁安装的电子编码光束窗口，自动内部衰减器轮和用于标准和客户特定滤波器的8位验证轮。独特的布鲁克 Rocksolid干涉仪和FM技术可同时实现中远红外线，完成INVENIO功能集。
便携式台式XRF（CTX）体积小，重量轻，安全联锁和电池供电。CTX自重重量不足7kg，真正便携，占地面积小，宽度为14厘米。新型CTX采用4W X射线源，采用布鲁克专利的SharpBeam优化X射线几何结构，高性能硅漂移探测器（SDD）以及布鲁克专利的DetectorShield，以及Wi-Fi、蓝牙和USB连接。CTX的触摸屏用户界面提供测量控制和结果显示。此外，布鲁克的Toolbox PC软件可实现CTX的全面远程操作，可选PC软件包括用于高级定性、半定量组分分析的布鲁克Artax，以及用于用户定义的经验关系的EasyCal。
CTX有多种配置，可针对不同行业和应用进行优化，如矿物和采矿、食品安全和农业、制药原料、贵金属、聚合物和船用燃油分析。它专门为需要在杯子或袋子中进行样品制备和/或样品制备的应用，以及测量时间超过几秒钟的小样品和样品应用而设计。
虽然CTX主要为移动和现场实验室设计，但它也非常适合中央实验室和工厂车间进行快速预筛选或常规分析，以及作为大型XRF或ICP / AA系统的备份。
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技术原理
