碳素材料的X 射线检测和声发射检测介绍
X 射线检测
是X 射线机的最大探测厚度可达500 mm，探伤灵敏度在2 %左右，配合机械自动传动机构还可实现连续批量检测，但无法检测尺寸过小的缺陷。与超声波检测法相比，X 射线检测费用高， 需要专用场地。 [2]
声发射检测
声发射技术是物体在外力或内应力作用下，根据结构内部缺陷发出的应力波判断损伤程度的一种动态无损检测方法，能连续监测结构内部损伤的全过程，几乎不受材料的限制，但不能检测静止缺陷。因此，声发射检测可以用来对碳素制品内部缺陷进行实时动态检测，但对非加载状态的碳素制品内部缺陷的检测无能为力。
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