分析测试百科网讯 2017年10月10日，第十七届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA2017）在北京国家会议中心开幕。捷欧路（北京）科贸有限公司携JCM-6000Plus和JSM-IT500两款电子显微镜亮相本次展会。

捷欧路展台

JCM-6000Plus

　　JCM-6000Plus采用新的操作屏幕和触控屏，为客户带来了方便的操作体验，使用起来非常直观。此外，JCM-6000plus标准配置了低真空模式，还可以安装EDS等附件，是一款功能丰富的台式扫描电子显微镜。

　　产品特点：

　　设计小巧的台式扫描电镜

　　尺寸：宽度325mm×长度490mm×高度430mm；独具匠心的设计；即使安装EDS，也不改变外观。

　　直观的操作

　　采用触控屏操作，操作屏幕简明易懂，按钮数量控制到最小限度。

　　丰富的功能

　　标准配备了高真空和低真空模式；测长功能也为标配；可以安装倾斜旋转马达驱动样品架(选配)；可以安装EDS（元素分析装置，选配件)

　　响应迅速

　　仪器启动后3分钟就可以显示出图像；轻触面板就可以进行高真空/低真空模式间的切换；一体化的栅极，维护非常简单。

JSM-IT500

　　JSM-IT500在效率方面突破了传统的通用型SEM，比其InTouchScope™系列高出约35％，实现了更快，更容易的分析。SM-IT500是JEOL InTouchScope系列的新机型。 从设定视野到生成报告，用于分析的软件整合于一体，加快了作业速度！是一款无缝操作，使用更加方便的扫描电子显微镜。

　　产品主要特点

　　1.SEM和EDS系统的积分

　　进一步集成SEM和EDS系统，实现无缝操作形式观察到分析。

　　2.新的“Zeromag”功能

　　通过Zeromag功能，样本导航比以往更容易。用户可以使用光学图像或持有人图形定位要成像的区域或在多个字段上指定分析位置。

　　3.新的“实时分析”功能

　　利用Analytical series（(“Live Analysis”)，嵌入式EDS系统在图像观察期间显示实时EDS光谱以用于有效元素分析。

　　4.“SMILE VIEW™实验室”，用于图像和分析数据的集成管理

　　将从收集的SEM图像到元素分析结果的所有数据集成以促进快速生成报告。

　　5.技术交流

　　从样本引入到图像观察的引导操作。