X射线荧光光谱仪分光晶体简介
分光晶体是光谱仪的重要元件，应用了X射线的衍射特性，将样品发射的各元素的特征X射线荧光，按波长分开以便测量每条谱线。不同的晶体和同一晶体的不同晶面具有不同的色散率和分辨率。
由上式可以看出，晶体角色散率和所用晶体的晶面间距2d、衍射角θ及衍射级有关，即2d间距越小，角色散率越大；衍射角越大，角色散率θ越高；衍射级n越大，角色散率越高。但强度相反，角色散率最好而强度最差。晶体角色散率是指某一晶体有效分开谱线的能力，即θ角对波长λ的变化率。通过对布拉格方程λ微分，得到角色散率的关系式：dθ/dλ=n/2dcosθ
分辨率（dλ/ λ）指谱线相对宽度，有时称为谱峰半高宽（FWHM）。光谱仪的分辨率不仅取决于晶体对光谱的角色散率，而且也取决于衍射线的FWHM、准直器立体角、狭缝系统半宽高和晶体反射性能。
分光晶体的选择标准是：
1）适合于所需要测量的分析线的波长范围，2d > λ，并且衍射强度大，峰背比高；
2）分辨率高，即具有较高的色散率和窄的衍射峰宽度；
3）不产生异常反射线，不产生晶体荧光，不含干扰元素；
4）稳定性好，要求温度系数小，对水蒸气、空气、X射线中曝光时的稳定性要好，机械性能良好。
晶体的适用范围受以下两方面的限制：
1）布拉格衍射条件：nλ/2d= sinθ≤1，即每块晶体其最大可产生衍射的波长为其面间距的2倍，因此为了覆盖元素周期表中各元素发出的不同波长，需要有不同2d值的多块晶体或晶面用于分光；
2）测角仪的2θ角扫描角度范围，探测器的2θ角一般小于148°。
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