透射电子显微镜（TEM）的工作原理
工作原理
透射电镜和扫描电镜一样，利用聚焦电子束作为照明源，不同的是，透射电镜是以透射电子为成像信号，而扫描电镜是以二次电子、背散射电子等为成像信号（如下图所示）。
由于透射电镜样品需要很薄，大部分电子会穿透样品，其强度分布与所观察样品的形貌、组织、结构一一对应。透过样品后的电子束经物镜汇聚调焦和初级放大后，电子束进入下级的中间透镜和第1、第2投影镜进行综合放大成像，最终被放大的电子像投射在观察室内的荧光屏板供使用者观察。图像的明暗与样品的原子序数、电子密度、厚度等相关。
透射电镜按照加速电压分类，可分为低压透射电镜（＜200KV），高压透射电镜（200~400KV）和超高压透射电镜（＞400KV）。按照分辨率可分为低分辨率和高分辨率透射电镜。
为了方便对透射电镜与扫描电镜的结构比较，大家可参考下面这个简略图（其中，样品位置不同是很大的不同点）。
透射电镜和扫描电镜在分辨力和焦点深度等方面也是不同的（如下图所示）。
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