AFM在二维材料研究中的应用
AFM在二维材料研究中的应用
新型二维材料自2004年石墨烯被发现以来，探寻其他新型二维晶体材料一直是二维材料研究领域的前沿。正如石墨烯一样，大尺寸高质量的其他二维晶体不仅对于探索二维极限下新的物理现象和性能非常重要，而且在电子、光电子等领域具有诸多新奇的应用。原子力显微镜(AFM)一直被广泛用于二维材料的形态和厚度表征。由布鲁克公司独有的ZLPeakForce tapping技术支撑，AFM不仅可以获得二维材料的原子分辨率的图像,也可以同时映射出多维物理属性,包括机械性能(模量、附着力和变形等)和电学性质(表面电位、导电性和压电响应等)。强大的AFM-Raman或AFM-IR技术，结合PeakForce QNM，能够更完善和定量描述二维材料。本次网络讲座将为大家介绍AFM在二维材料应用研究上的最新进展。
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