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扫描电镜(SEM)和颗粒表征

2018.8.22

扫描电镜(SEM)和颗粒表征

 

如上所述,扫描电镜(SEM)对 AM 工艺制造的产品的表面进行成像和表征。 另外,对于粉末材料的表征,可以使用专用软件,例如由飞纳电镜开发的颗粒统计分析测量系统(ParticleMetric)。  

 

该软件可以自动检测扫描电镜样品上存在的颗粒,并通过测量几种最重要的物理性质,如尺寸,形状,圆度,长径比等来准确表征它们。这些物理数值需要检查和分析大量颗粒,因此这些自动执行的表征过程就显得非常重要,可以有效提高测试者的工作效率。

 

另外,扫描电镜(SEM)可以通过使用所配备的能量色散X射线光谱仪(EDX)检测粉末材料的化学特性。 将扫描电镜(SEM)的 EDX 探头应用于 AM 工艺中,操作员可以准确检测和量化样品中存在的元素。


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