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涂层测厚仪校准方法有哪些

2020.5.05

涂层测厚仪校准方法有哪些

涂层测厚仪校准方法有哪些？涂层测厚仪校准方法主要有三点，分别是系统校准、两点校准和铁基校准三种。在一般情况下只需进行铁基校准即可进行准确测量。当仪器铁基与被测件铁基的磁性和表面粗糙度差别较大时,可以进行系统校准以保证测量度。下面我们就来具体介绍涂层测厚仪校准的方法。
(1) 铁基校准
仪器标准基体金属的磁性和表面粗糙度应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。为了保证测量的性,可以在测量测试件之前先进行铁基校准。
校准方法:仪器开机后，先将探头放在被测试件的裸露基体上进行测量,测量两次，测完第二次按住探头不动按下"CAL"键，伴随着两声蜂鸣即可完成铁基的校准。如果没发出两声蜂鸣说明操作有误，重新按以上步骤操作直至发出两声蜂鸣即可。
(2) 两点校准
在测量过程当中，如果发现个别测量值偏差较大可以通过两点校准方法进行调整。
校准方法：把一个已知厚度的被测试件作为标准样片进行测量，如果显示值与真实值不一致，可以通过"▲"、"▼"键进行加1或减1操作。按住"▲"、"▼"键不放可以进行连续加、减，直到显示值和真实值相同为止。校准完成后即可进行正常测量。
注意:两点校准时选用的被测试件厚度不要与系统校准时的五个样片值接近，否则操作无效。
当第五个样片校准完成后屏幕显示"0000''，进入开机界面如图A，仪器此时即完成了系统校准过程。以后就可以对被测件直接进行测量。
注意：这五个样片可以使用提供的标准片也可以使用已知厚度的样片作为标准片。样片校准时要按照由小到大的顺序进行，相邻样片间应该有一定的差值。