应晓浒:X射线荧光光谱法分析铁矿中的全铁及其它成分的含量
2014年10月20日，CCATM’2014国际冶金及材料分析测试学术报告会及展览会在京召开，在化学场上，来自国内外相关领域的专家、学者、技术人员及仪器设备厂商100余人参加。现将部分报告整理供大家参考学习。
来自布鲁克（北京）科技有限公司的应晓浒工程师为大家带来题为《X射线荧光光谱法分析铁矿中的全铁及其它成分的含量》的报告。
布鲁克（北京）科技有限公司 应晓浒工程师
应晓浒工程师在报告中介绍了以12:22（Li2B4O7：LiBO2=12:22）为熔剂制备铁矿熔融玻璃片，用S8 Tiger型波长色散X射线荧光光谱仪测定铁矿石中的TFe、Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、S、K2O、CaO、TiO2、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、As、Sn、Ba、Pb、等21组分。通过优化制样条件，选择合适的熔剂、熔融温度、脱模剂、氧化剂等，抑制了S、As、K等元素在熔融时的挥发，也提高了Fe等主量元素的制样精密度。采用未知烧失量校正方法拟合烧失量，通过理论α影响系数校正铁矿的基体效应，提高了TFe的测量准确度，满足了日常检测的需要。
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