PDA阵列光谱仪对透射率测定的相关方法
PDA阵列光谱仪采用先进的PDA（脉冲分布分析法）技术，可以同时快速、高精度分析金属材料的元素组成，是质量管理分析中广泛应用的分析仪器。所谓发射光谱分析是指使用放电等离子体蒸发气化来激发样品中的目标元素，根据得到的元素固有的亮线光谱（原子光谱）的波长进行定性，并根据发光强度进行定量的分析方法。
光谱分析仪器的透射率是影响分析结果的一项重要指标，它的测定对结果的准确性将产生直接影响，因此总结了透射率测定的相关方法供大家参考。
PDA阵列光谱仪的透射率或它的效率可用辅助单色仪装置来测定。在可见和近紫外实现这些测量没有任何困难。测量通过头个单色仪的光通量，紧接着测量通过两个单色仪的光通量，以这种方式来确定第二个单色仪的透射率。
绝对测量需要知道单色仪的绝对透射率。对于相对测量，以各种波长处的相对单位可以测量透射率。真空紫外线的这些测量有相当大的实验困难，因此通常使用辅助单色仪。在各种入射角的情况下分别测量衍射光栅的效率。在许多实验步骤中已成功地避免了校准上的困难。
通过对光栅效率与波长、入射角、镀层厚度、镀层材料以及其它因素的关系测量指出，在许多情况下能量损失是非常显著的，并且光栅的效率低于1%，光栅的不同部分可能有明显不同的效率。
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