扫描电镜和植物解剖学
扫描电镜和植物解剖学
使用扫描电镜（SEM）对解剖学进行研究，其中使用二次电子探头（SED）成像优势明显。阅读本博客，了解更多有关不同探头的信息。利用二次电子成像可以有效地观察植物各种结构，如植物器官，或表面的毛状体等。
植物样品是不导电样品，且一般情况下都含一定的水分，因此往往需要进行复杂的脱水处理，并喷金，这样在使用扫描电镜观察时才能避免样品充电。另一种方法，除了使用背散射探头（BSD）成像，还可以在较低的真空模式下观察。除此之外，另一种常用的技术为激光共聚焦扫描显微镜（CLSM）。但是，这种技术经常面临的问题是，膜染料往往不能轻易渗透组织，因此并不是所有的植物都获得绿色荧光蛋白（GFP）转染。
De Craene等人 [1] 有效地证实了如何在植物材料上使用二次电子探头成像。他们观察了早期花粉的发育和两性木瓜器官的分化，并与拟南芥的生长发育过程进行比较。
在Talbot和White [2] 发表的一篇文章中，他们直接使用扫描电镜的背散射探头（BSD）对未喷金的植物细胞壁样品直接观察。这种方法制样过程非常简单，通过调节亮度和对比度，可以使拟南芥的细胞壁能够更容易地被检测和分析。
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