带一体化环形光或同轴照明系统的 Leica DVM6 应用示例

DVM6 的多种照明技术

目前最先进的数码显微镜，例如，Leica DVM6，运用了通用照明系统，该系统能够实现多种反差观察法，这对检测、质控和失效分析是非常有用的。这些反差观察法能够令用户更轻松、更快速地检测产品或部件表面上的瑕疵或缺陷。本文将列举示例，探讨现代化数码显微镜是如何令检测、质控和失效分析等工作更高效的。

利用 Leica DVM6 通过不同照明反差观察法，获取镀锡铜引线框架修切沿口（横截面）的不同图像（简略插图）：A) 全环形光；B) 起偏镜开启时的同轴光源；C) 浮雕反差法和起偏镜开启时的同轴光源；D) 起偏镜关闭时的同轴光源。上述图像展示了锡涂抹大部分铜表面的不同反差情况，针孔破裂且能看到铜材料的底部除外。

利用 Leica DVM6 通过不同的照明反差观察法，记录金属浮雕铜版纸图像（简略插图）：A) 全环形光；B) 1/4 环形光；C) 起偏镜开启时的同轴光源；D) 起偏镜关闭时的同轴光源。1/4 环形光（图像 B）和起偏镜开启时的同轴光源（图像 C）能够增强浮雕效果，而起偏镜关闭时的同轴光源（图像 D）则能够突出瑕疵或污染。