薄膜测厚仪的相关知识及测试原理标准
薄膜测厚仪，顾名思义为用于塑料薄膜材料的厚度检测的专业测量仪器。其名称为“薄膜测厚仪”，行业中又被称为薄膜厚度测量仪、薄膜厚度仪、薄膜厚度测试仪等等。一般来说，仪器能够测量的材料包括：塑料薄膜、薄片、塑料片材、铝箔、铜箔、电池隔膜、纸张、纸板等材料的厚度。
从薄膜厚度测量方式不同的角度来划分，薄膜测厚仪可分为接触式和非接触式两种，即测量薄膜厚度时仪器是否接触到测试样品本身。
C640薄膜测厚仪是在Labthink不断的创新研发和技术积累中推陈出新的一款新型测厚仪，使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术，实现先进的测试稳定性、重复性及精度。可选配自动进样机，更加准确、高效的进行连续多点测量。
仪器的测试原理为：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。
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