赛黙飞世尔科技参加第八届CSEI取得圆满成功
由中国机械工程学会表面工程分会主办、装甲兵工程学院装备再制造技术国防科技重点实验室承办的第八届全国表面工程学术会议暨第三届青年表面工程学术论坛于2010年4月25日在北京的国家会议中心举行， 赛黙飞世尔科技做为业界的领导者，以会议主赞助商形式支持了此次会议，旗下表面分析产品部的销售经理魏义彬博士做了XPS在表面工程中的应用的大会主题报告。
赛黙飞世尔科技旗下表面分析产品销售经理魏义彬博士做大会报告
赛黙飞世尔科技公司展台
在报告中，魏义彬博士基于赛默飞世尔科技2009年10月推出的全球首款数字化多功能光电子能谱仪ESCALAB 250Xi，介绍了单色化XPS、双阳极XPS、场发射俄歇AES/SEM/SAM、紫外能谱UPS、离子散射谱ISS以及反射电子能量损失谱REELS等技术在表面工程中的应用，并重点结合数字化的系统控制、参数设置以及系统操作等方面的特点，给出了ESCALAB 250Xi能提供的稳定优异的专业表面分析解决方案。ESCALAB 250Xi是一款基于现代化数控技术的多功能光电子能谱仪，采用了现代化第三代X射线源微聚焦单色化X射线源，并配备了性能稳定优异的双探测器，结合系统的纯μ金属分析室、空间分辨可达95nm的场发射俄歇电子枪以及能量扫描范围可达同类产品最高的0~5000eV的半球分析器等配置，ESCALAB 250Xi可实现目前同类产品中最优异的能量分辨率和最高的实际可用灵敏度。和该型号的前身ESCALAB 250在过去十年内获得市场的高度认可一样，ESCALAB 250Xi一经推出，即获得用户认可，2009年12月国内高端科研用户采购了两套该型号设备，用户包括位于北京中关村地区的国家纳米科学中心。
在报告中，魏义彬博士还介绍了基于赛默飞世尔科技的ZL技术—弧透镜而研发的，专注于薄膜无损深度剖析的光电子能谱仪Theta Probe。Theta Probe是一款借助弧透镜的ZL技术，可以实现对不同角度出射的光电子同时获谱，进而实现真正意义的角分辨XPS的产品，该系统可以实现无损的对样品表面几个纳米厚度内元素及其化合态的定性和定量分析，并结合公司的完备专业的分析软件Avantage可获取成份所分布的厚度。此项技术对于表面工程中涉及到的镀膜成份、缺陷、腐蚀及失效等方面，有着广泛的应用和实际应用。
XPS指的是X-ray Photon-electron Spectroscopy(光电子能谱仪)，是一种基于光电效应，采用X射线激发被测样品表面nm尺度内的原子发射光电子，通过系统探测到所发射光电子的动能等信息，进而分析样品表面的元素种类及化合态的定性和定量分析的一种技术。XPS技术目前已有超过40年的应用历史。目前广泛应用于科研和工业测试领域，包括化工、催化、薄膜、半导体、钢铁、纳米材料以及微器件等。 赛默飞世尔科技表面分析部门的前身—英国VG科技公司是一家有着超过40年的表面分析和超高真空仪器研发和制造的公司，在定型光电子能谱仪的间断技术研发和产品更新等方面走在市场的前列，2009年国内同类产品市场占有率超过65%。
第八届全国表面工程学术会议暨第三届青年表面工程学术论坛于2010年4月27日顺利闭幕。
如想了解更多信息,可联系赛默飞世尔科技表面分析产品销售部：电话：010-84193588转3657，手机： 13811077655，或发邮件至yibin.wei@thermofisher.com ，或浏览我们的网站 www.thermo.com.cn/Category483.html。
