颗粒大小是评估固态物质物理和化学属性的重要参数。筛分分析通常由半熟练员工进行，因此设备必须易于使用。Excellence Plus 天平将简单、直观的操作理念与简单的文档解决方案相结合。

分级分离或筛分分析是一种常用的粒度分布分析法。在许多场合，筛分分析由半熟练员工进行，这就要求设备必须易于操作，无需任何 PC 连接。凭借 Excellence Plus 天平，筛分分析过程具有逻辑性而且操作简单。安装空筛网，天平去皮重；然后即可称出样品质量。接着，开始进行筛分分析。完成后，您只需将筛子放回天平并获取读数即可。快速且具逻辑性。

完美显示结果
XP 精密天平与其他型号相比的明显优势是：它可在重新称重后立即按 % 显示剩余粒度，剩余含量也可以以 g 或 kg 显示。此外，它还有一个毛重显示选项。如果需要，可以12 种语言显示所有用户菜单。

此时，可在专门创建的简单结果表中手动输入结果。如果需要，还可将这些结果发送至打印机或 PC（例如，使用我们的 LabX 软件）。用户只需按下最多 2 个按钮即可完成。

记录多个筛网
筛分分析过程通常会使用多个筛网，一般为6-8个。该款天平中还有存储这些筛网的选项，并附带其测试设备编号，用户在需要时可查看。还可以预设皮重，为各种用户提供同时称量几个粒度筛网的选项。无需等待即可完成筛分分析。

所有这些特点使得 Excellence Plus XPR 精密天平成为您的最佳之选。它具有灵活性、功能性，并且简单易用。

One Click™ 筛分分析 — 结合 LabX
如果您每天都要按列筛分分析（分级分层），或者大量数据收集和评估，建议增加软件支持（例如 LabX）以简化过程。按下 XP 天平触摸屏上的 One Click™按钮即开始筛分分析。自动质量计算功能确保逐个称量筛网，无需再进行任何输入。LabX 指导用户分步操作，可自动进行计算，并存储所有的数据。该解决方案灵活、完整，满足单个的过程要求，简化实验室里每天广泛的筛分分析过程。