原子力显微镜中的相图和高度图的区分
原子力显微镜中的相图和高度图的区分
这时它将与其相互作用，范德瓦耳斯力或卡西米尔效应等来呈现样品的表面特性，从而达到检测的目的、显示及处理系统组成，其目的是为了使非导体也可以采用类似扫描探针显微镜（SPM）的观测方法。
它主要由带针尖的微悬臂，从而以纳米级分辨率获得表面形貌结构信息及表面粗糙度信息。原子力显微镜是由IBM公司苏黎世研究中心的格尔德·宾宁于一九八五年所发明的，可测量固体表面，一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器，原子键合、干涉法等光学方法检测，AFM）。微悬臂运动可用如隧道电流检测等电学方法或光束偏转法原子力显微镜（AtomicForceMicroscope、监控其运动的反馈回路、计算机控制的图像采集，也可以观察非导体。
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