简介透射电子显微镜对检测样品的要求
由于受电镜高压限制，透射电子束一般只能穿透厚度为几十纳米以下的薄层样品。
除微细粒状样品可以通过介质分散法并直接滴样外，其它样品的制备方法主要有物理减薄(离子和双喷减薄等)和超薄切片法。
一般情况下，需要采用物理减薄法的样品制备过程，须由用户自己完成(不具备此制样条件的院系，可租用本室的相关设备)。
超薄切片样品的制备，需经样品前处理、包埋、切片等复杂工序，周期较长(约一周左右)
由于该仪器是高分辨型电镜，为确保仪器性能和发挥其高分辨象观察特点，目前主要接受材料领域的样品。
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