原子发射光谱分析中，什么是谱线的自吸和自蚀
1. 谱线强度
影响谱线强度的因素有以下几个方面。
(1)激发电位：谱线强度与激发电位的关系是负指数关系。激发电位越高，谱线强度就越小。这是由于激发电位越高，处于该激发态的原子数越少。实践证明，绝大多数激发电位较低的谱线都是比较强的，激发电位最低的共振线往往是最强线。
(2)跃迁概率：跃迁是指原子的外层电子从高能级跳跃到低能级发射出光子的过程。跃迁概率是指两能级间的跃迁在所有可能发生的跃迁中的概率。谱线强度与跃迁概率成正比。
(3)统计权重：谱线强度与激发态和基态的统计权重之比贼正比。
(4)激发温度：温度升高，谱线强度增大。但温度升高，电离的原子数目也会增多，而相应的原子数减少。不同谱线各有自己适宜的激发温度。
谱线强度与基态原子数成正比。一定条件下，基态原子数与试样中该元素浓度成正比。因此，在一定实验条件下谱线强度与被测元：素的浓度成正比，这是光谱定量分析的依据。
2. 谱线的自吸和自蚀
原子发射光谱的激发光源都有一定的体积，在光源中，粒子密度与温度在各部位分布并不均匀，中心部位的温度高，边缘部位的温度低。元素的原子或离子从光源中心部位辐射被光源边缘处于较低温度状态的同类原子吸收，使发射光谱强度减弱，这种现象称为谱线的自吸。谱线的的自吸不仅影响谱线强度，而且影响谱线形状。
一般当元素含量高，原子密度增大时，产生自吸。当原子密度增大到一定程度时，自吸现象严重，谱线的峰值强度完全被吸收，这种现象称为谱线的自蚀。在元素光谱表中，用r表示自吸线，用R表示自蚀线。
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