光学测量光学测头的使用
传统的触摸式三坐标丈量机自1956年面世以来，现已经过了50多年的发展。现在现已广泛使用于生产车间及科研部门当中。随着工业技能的不断进步，对丈量设备的各方面要求也不断进步，三坐标丈量机在此过程中也阅历了无数次的技能创新以习惯更高的丈量要求。尽管如此，当今三坐标丈量机依然在某些方面遇到了一定的技能瓶颈。这些瓶颈的发生不能简略地归结于技能创新的不足，其主因在于触摸式三坐标丈量机的硬件结构和丈量原理上的约束。成像亮度计
传统三坐标丈量机装备最多的是触发式测头，用触发式测头丈量物体时，测针以一定速度触摸物体外表，然后使测针的方位发生偏离，发生的电信号触发测头记载一个物体外表测点的空间坐标。由此带来的第一个问题就是丈量速度较慢。其原因在于，首要触发式测头的采点方法对错接连的，测头在一次采点完成后需退回一段距离，让测针归位后才干进行第2次采点。而且采点时触摸物体外表的速度不能太快，若测针触摸物体速度过快使得测针的方位偏离过大，则信号会被认为是发生了磕碰而采点失败。出于这个原因可以用扫描式测头代替触发式测头，扫描式测头采用的是接连采点方法，因而采点速度得到较大进步。约束丈量速度的第二个原因在于，假如被测物体具有比较复杂的几何形状，那么测针需要变换若干次指向才干完成整个丈量，并且测针的每个指向需进行标定。假如要克服这一不足，然后进一步进步丈量速度的话，需要给三坐标丈量机装备高端的多轴旋转扫描测头，该项新技能可以以接连方法高速扫描物体进行采点。成像亮度计
触摸式丈量所用的测针尖端一般为红宝石球，测头采点所得的空间坐标为红宝石球的球心方位。而测针与物体外表的实践触摸方位并非球心，所以物点的坐标必须依据红宝石球的半径进行补偿。由此带来了触摸式丈量的第二个问题，即红宝石球的半径补偿方向过错。当被测几何特征较小直径《 1mm且采点密度较大时，采得点的次序会发生紊乱，然后使球半径补偿方向发生过错，造成获得的几何特征与实践不符。
