北京泰仕特涂层测厚仪多点校准和零校准
大点阵液晶屏，标准化菜单操作；
两种测量模式：单次（Single)和连续(Continuous)；
两种组模式：直接组(DIR)和通用组(GEN),一个直接组和四个通用组，每组可存储80个数据；
可零校准和多点校准(zui多四点)。各组有单独的零校准和多点校准，组与组之间不影响；
用户可随时查看当前工作组已测得的数据，并删除指定数据或整组数据；
实时显示当前工作组统计值：平均值(Mean),zui小值(Min)，zui大值(Max),标准方差(Sdev)；
三种探头模式: 自动(Auto)、磁感应(Magnetic)和涡流(Eddy Current)；
可为各组单独设置高低限值，超限时屏幕指示灯闪烁；
可开启或关闭自动关机功能；
USB接口可传输通用组数据到计算机；
泰仕特涂层测厚仪TST-EC770技术参数：
1. 测量原理：磁感应（F探头）；涡流效应（N探头）；
2. 测量范围：0~1300um；
3. 测量精度（典型值）：± (读数的3%+2um)；
4. 分辨率：0um~99um(0.1um), 100um~999um (1um), 1000um~1300um (0.01mm)；
5. 校准：零点校准，并支持zui多4点校准；
6. 数据存储与分组：一个直接组（数据不保存）和四个通用组（数据可被保存），每组有单独的统计，有上下限设置和校准设置；
7. 统计值：支持平均值、zui小值、zui大值和标准方差；
8. 支持单位：um, mm, mils；
9. 报警：可设置上下报警限，当发生报警时，液晶屏幕可显示提示；
10. zui小曲率半径：凸1.5mm，凹25mm；
11. zui小测量面积：直径6mm；
12. zui小基材厚度：0.5mm（F探头）；0.3mm（N探头）；
13. 电脑接口：可通过USB口连接计算机上传数据；
14. 电源：两节1.5V AAA电池；
15. 操作温度：0~40℃；
16. 保存温度：--20℃ to 70℃；
17. 尺寸：110mm*53mm*24mm；
18. 重量：92g；
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