电子元件的振动测试程序
子元件的振动测试程序
1、适用范围：本标准规定用以测定电子组件(以下简称组件)于运输或使用中承受振动之耐久性能之试验方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。
注：试验方法Ⅰ适用于测定对一般振动之耐久性，试验方法Ⅱ适用于测定共振点及试验方法Ⅰ、Ⅲ前后共振点之偏距，试验方法Ⅲ适用于测定在共振点之耐久性。
2、装置：振动装置应能作表中所示各种试验且符合下列条件。
(1)振动波形及失真率：施加于供试品之振动波形为正弦波，供试品安装位置之振动加速度波形之备波含有率应为25%以下。
(2)振动振幅：规定振动方向之振幅容许差，须为规定值之±15%以内。
(3)与规定振动方向垂直之振动：于供试品安装位置，与规定振动方向垂直之振动，不论任何方向，其振幅应为规定方向之25%以下。
(4)振动频率容许差：50Hz以下就为±1Hz，超过50Hz时应为±2%。
(5)扫描(1)方法：原则是为对数扫描，但平均扫描亦可。
注：(1)1次扫描，例如10—55——10Hz，是指在规定振动频率范围作1次往复之频率变化。
3、准备
3．1 供试品之安装：将供试品依组件标准规定之方法，直接或使用夹具坚固地安装于振动台上。使用夹具时，须能施加振动于组件标准规定之方向，且夹具应具足够机械强度，安装后亦不得松动或发生共振，组件标准应规定下列任一种安装方法。
(1)固定组件本体(有导线之组件，亦同时固定导线)。
(2)仅固定导线。
4、试验
4．1 前处理：原则上不作前处理。但有特别需要时，依组件标准之规定。
4．2 初期测定：依组件标准之规定施行，检查外观。
4．3 试验方法：依下列各项施行。如装置产生磁导且供试品易受磁场影响时，于组件中应规定其zui大允许值。
4．3．1 试验方法种类：试验方法分为Ⅰ(扫描耐久试验)、Ⅱ(共振点偏移检出试验)及Ⅲ(共振点耐久试验)三种。
(1)试验方法Ⅰ(扫描耐久试验)：依组件标准之规定，照下表施行(参照图)。
振动原则上依次施加于供试品互相垂直之方向。试验时间各方向均相同，合计6小时。
表
振动种类 试验条件 | 种类A | 种类B | 种类C |
振动频率范围 | 10～55Hz | 100～500Hz | 10～2000Hz |
全振幅或加速度 | 1．5mm | 1．5mm或98m/s2(10G)中较小者 | 1．5mm或196m/s2(20G)中较小者 |
扫描之比例 | 10-55-10Hz 约1分钟 | 10-500-10Hz约15分钟 | 10-2000-10Hz约20分钟 |
扫描方法 | 对数扫描或平均扫描 | ||
试验时间 | 6小时 |
(2)试验方法Ⅱ(共振点偏移检出试验)：本试验是于4．3．1(1)及4．3．1(3)试验前后施行，以检出供试品这共振频率。检出共振时之振幅与扫描耐久试验相同。但如由于减小振幅更能检出振动特性。可减小振幅。
