导电性原子力显微镜(C-AFM)
导电式原子力显微镜是外加一组电流放大器于显微镜,然后利用导电探针接触模式扫描样品,在取得高度讯号的同时,若是样品表面有电流产生,探针也会取得此电流讯号,因此我们可以利用Conductive AFM的扫描,同时得到扫描区域得高度形貌图及电流分布图像, 更可进一步的于特定的点上取得IV 曲线。
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