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新品速览 耶拿、JEOL将在Pittcon展发布ICP-MS、TOC、GC等新品

2019.3.13

  分析测试百科网讯 举世瞩目的Pittcon 2019即将在美国最古老的城市之一费城召开。分析测试百科网一如既往为您带来Pittcon会议的最新信息。

  首先是德国耶拿新品速览。

Analytik Jena.jpg

  在今年的Pittcon上,德国耶拿凭借一系列高性能仪器以及足以获奖的支持和服务开启了新一年的征程。精确而准确的分析仪器,无论是在质量控制,研究还是常规测试领域,都能提供更好的使用体验。耶拿正在改变AAS,ICP-OES,ICP-MS,TOC和元素分析仪的使用方式。耶拿的目标是开发并包含客户反馈,以便为工业应用提供最佳解决方案。耶拿所有的分析仪都经过精心设计,可通过各种升级以及根据客户的个性化需求量身定制。

  • 在3月20日星期三下午2-3点见到《ICP-MS实用指南-初学者教程》(Practical Guide to ICP-MS–A Tutorial for Beginners)和《测量药物中的元素杂质-实用指南》(Measuring Elemental Impurities in Pharmaceuticals–A Practical Guide)一书的作者——Robert Thomas

  • ICP-MS团队中有两名新成员将击败任何对手:用于超高速应用的PlasmaQuant MS Q和用于常规应用中测定超微量元素的PlasmaQuant MS Elite S

  • 制药领域的新TOC/TNb前锋:疫苗总蛋白测定的multi N/C 2100S)和痕量TOC测定的multi N/C 3100

  • 一次获得四项结果的EA 5100,用于固体,液体和气体样品中的C,N,S和Cl分析

  作为分析测试领域不可或缺的设备提供商,日本电子(JEOL)也将在Pittcon发布两款全新产品。

JEOL.jpg

  • 首先是具有快速SRM切换和高灵敏度的新型气相色谱串联三重四极杆质谱仪系列产品,其主要用于痕量定量。对于日本电子的GC-TOF系统,新的软件将来自软电离和硬电离的信息与精确的质量测量和同位素数据组合成统一的报告。

  • 全新SEM,日本电子的电子显微镜产品线将通过新发布的第四代NeoScope台式SEM进行扩充。第四代NeoScope具有更高级别SEM的一些功能和灵活性,包括集成分析功能,增强的电子光学和3D成像功能。

  • 凭借60多年在核磁共振领域的发展,日本电子将在NMR在多个领域扩展相关业务。例如,日本电子的核磁共振探针技术和软件升级优化了制药应用,qNMR用于制药和食品等。


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