X荧光光谱仪的工作原理和工作环境要求

荧光光谱仪又称荧光分光光度计，是一种定性、定量分析的仪器。通过荧光光谱仪的检测，可以获得物质的激发光谱、发射光谱、量子产率、荧光强度、荧光寿命、斯托克斯位移、荧光偏振与去偏振特性，以及荧光的淬灭方面的信息。

X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。有两种基本类型：波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF）。

X荧光光谱仪的工作原理：

X荧光光谱仪是通过激发源激发X射线打击样品的分子结构，使之发生原子变迁，通过探测器收集原子变迁所产生的能量波，以分析判断原子（元素）的类型。

X荧光光谱仪对工作环境的要求：

1、远离强磁、强振、高压环境，否则会干扰能量谱形或造成设备不能正常工作。
2、应保持室温15～30℃为宜，气温过高或过低都会影响设备的正常运作；空气相对湿度 应＜70%，湿度过高会造成内部高压单元产生拉弧和放电。  
3、配置一千瓦的稳压电源，杜绝突然断电现象和市电波动对测试结果的影响。  
4、保持工作间和设备的整洁，防止灰尘的腐蚀。