TEM样品制备
样品制备
由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。
l 试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。
l 制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。
▽ 超细颗粒制备方法示意图
来源：公开资料
▽ 材料薄膜制备过程示意图
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由于透射电子显微镜收集透射过样品的电子束的信息，因而样品必须要足够薄，使电子束透过。
l 试样分类：复型样品，超显微颗粒样品，材料薄膜样品等。
l 制样设备：真空镀膜仪，超声清洗仪，切片机，磨片机，电解双喷仪，离子薄化仪，超薄切片机等。
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