单色光成像与可见光成像对比
分别使用传统光源与激光光源对带有消影层的ITO的成像对比，在传统光源成像下，整个触控屏的观察区域是透明的，无法观察到ITO与非ITO区，如图3-3-(a)。但当在使用激光成像后，可以发现有ITO的区域与无ITO的蚀刻区分界清晰锐利，同时可以看到ITO表面上的微小缺陷，如图3-3-(b)，这样的缺陷很有可能导致触控屏在下一步制程中失效。使用VK-250的激光光源成像可以有效定位溅镀了IM层的触控屏线路缺陷。
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分别使用传统光源与激光光源对带有消影层的ITO的成像对比，在传统光源成像下，整个触控屏的观察区域是透明的，无法观察到ITO与非ITO区，如图3-3-(a)。但当在使用激光成像后，可以发现有ITO的区域与无ITO的蚀刻区分界清晰锐利，同时可以看到ITO表面上的微小缺陷，如图3-3-(b)，这样的缺陷很有可能导致触控屏在下一步制程中失效。使用VK-250的激光光源成像可以有效定位溅镀了IM层的触控屏线路缺陷。
