偏光显微镜应如何校正？
偏光显微镜是用于研究所谓透明与不透明各向异性材料的一种显微镜，在地质学等理工科专业中有重要应用。偏光显微镜的特点，就是将普通光改变为偏振光进行镜检的方法，以鉴别某一物质是单折射性（各向同性）或双折射性（各向异性）。被广泛地应用在矿物、高分子、纤维、玻璃、半导体、化学等领域。
偏光显微镜应如何校正？
(1) 确定下偏光镜(起偏振镜)的振动方向：将上偏光镜(检偏振镜)自镜中推出，只用下偏光镜观察工作台上。转动工作台，当黑云母解理缝与下偏光镜的振动方向平行时对黑云母吸收性强，此时呈现深棕色;当解理缝与起偏振镜的振动方向垂直时，黑云母吸收性微弱，此时晶体呈现淡黄色，据此就能确定起偏振镜的振动方向。
(2)调整下偏光镜的振动方向与目镜分划板十字线横丝平行：将黑云母解理缝与目镜分划板十字线横丝平行，转动下偏光镜至黑云母呈现深棕色位置，此时下偏光镜的振动方向平行横丝，其刻线应对准0°或180°。
(3)确定上偏光镜(检偏振镜)与下偏光镜(起偏振镜)的振动方向正交：将黑云母切片取出，推入上偏光镜，如果视域呈黑暗，则上、下偏光镜振动方向正交;否则转动上偏光镜直至视域最黑暗。
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