Q非破坏性读数和破坏性读数有何区别？
Q非破坏性读数(non-destroy readout, NDRO)和破坏性读数(destroy readout, DRO)有何区别?
两种读数方式分别是CID和CCD两种检测器所采用的方式。CID采用这种读数方式是由其本身缺陷所决定的，由于灵敏度差、读数噪声大，它只能采用非破坏性读数的方式不断累积电荷提高灵敏度，同时从统计学意义上可以降低读数噪声。所谓非破坏性读数就是在一个周期完了后，控制电路查看检测单元的电荷大小是否足够亦即灵敏度满足要求，如果不够则继续累积电荷，反之则将电荷注入到底质，完成读数。这最后一次读数实际上也就是破坏性读数。
从这个意义上说，事实上两种读数方式仅仅是中间读数方式不同罢了，最终将数据传输到处理器时CID同样要做一次破坏性读数。
具体来说，CCD是在数据积分时不读数，积分完成后，一次性将数据读出，并刷新寄存器，开始新的积分。而CID是边积分边读数，积分过程中不刷新检测器。这就如同写文章，CCD是写好一篇文章后交卷，CID是写一个字交一个字，实际上由于CID积分时不刷新检测器，导致数据传输时间过长，是其易受干扰而且不稳定的主要原因。
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