扫描电镜的样品需要进行切片处理吗
v不需要。
扫描电镜具有以下特点：1、样品制备过程简单，不用切成超薄切片；2、能够直接观察样品表面的结构；3、可以从各种角度对样品进行观察；4、景深大，图像富有立体感；5、图像的放大范围广，分辨率也比较高；6、电子束对样品的损伤与污染程度较小；7、在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。
扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。
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