原子力显微镜的原理简介
原子力显微镜（AFM）通过机械探针“触摸”样品表面表征其形貌并记录力学性质。它的工作原理类似人类用手指触摸物品表面，当探针靠近样品表面时，探针与样品表面间会产生一个相互作用力，此作用力会导致悬臂发生偏折。
激光二极管产生的激光束通过透镜聚焦到悬臂背面，然后再反射到光电二极管上形成反馈。
在扫描样品时，样品在载物台上缓慢移动，而微悬臂在反馈调节系统调节下将随样品表面形貌而弯曲起伏，反射光束也将随之偏移，由检测器记录表面形貌和力学信息。
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原子力显微镜（AFM）通过机械探针“触摸”样品表面表征其形貌并记录力学性质。它的工作原理类似人类用手指触摸物品表面，当探针靠近样品表面时，探针与样品表面间会产生一个相互作用力，此作用力会导致悬臂发生偏折。
激光二极管产生的激光束通过透镜聚焦到悬臂背面，然后再反射到光电二极管上形成反馈。
在扫描样品时，样品在载物台上缓慢移动，而微悬臂在反馈调节系统调节下将随样品表面形貌而弯曲起伏，反射光束也将随之偏移，由检测器记录表面形貌和力学信息。
