关于电子探针的定性分析方法介绍

　　1. 定点分析：

　　将电子束固定在要分析的微区上，用波谱仪分析时，改变分光晶体和探测器的位置，即可得到分析点的X射线谱线；用能谱仪分析时，几分钟内即可直接从荧光屏（或计算机）上得到微区内全部元素的谱线。

　　镁合金中的析出相CaMgSi的鉴别

　　Spectrum1 位置析出相富含Ca、Mg、Si元素

　　2. 线分析：

　　将谱仪（波、能）固定在所要测量的某一元素特征X射线信号（波长或能量）的位置

　　把电子束沿着指定的方向作直线轨迹扫描，便可得到这一元素沿直线的浓度分布情况。

　　改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。

　　3. 面分析：

　　电子束在样品表面作光栅扫描，将谱仪（波、能）固定在所要测量的某一元素特征X射线信号（波长或能量）的位置，此时，在荧光屏上得到该元素的面分布图像。改变位置可得到另一元素的浓度分布情况。也是用X射线调制图像的方法。

　　镁合金中的析出相Mg2Si的鉴别

　　Si的元素面分布图，可以清晰地看到Mg2Si所在的位置