你们的CCD比CID更不能抗饱和溢出
绝对错误，恰恰相反，瓦里安的Vista采用的是一种主动的抗饱和机制，采用的疏导而不是围堵的方式，一旦有过剩的电荷，即通过类似排水暗沟的方式消除;而CID抗饱和的功能只是利用所谓的非破坏性读数来间接实现，是一种消极的方式，也就是通过查看电荷所象征的灵敏度是否足够决定停止积分与否，从而避免溢出，出发点是很好的，问题是采集每个数据点(像素)是有个周期的，一旦在两个周期间隔内电荷饱和怎么解决?由于CID的读数速度慢，更加大了这种可能。看看热电通过摄谱模式拍的谱图不就真相大白了吗!
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