泰克TEK TDS8200 CSA8200示波器
泰克tektronix TDS8200产品简介
取样示波器的详细资料为实现最精确的结果，可以使用8200系列作为新兴高速计算机和通信电接口和光接口信号检定和一致性测试的黄金参考标准: SATA III 2x PCI Express 基于IEEE的标准: 50 Mb/s -12.5 Gb/s 型号带宽 采样速率 记录长度通道数量 CSA8200 12.5 GHz to 70 GHz 200 kS/s （顺序采样）4kB最多8个 TDS8200 12.5 GHz to 70 GHz200 kS/s （顺序采样）4 kB最多8个查看更多详细信息
产品资料.
主要特点和优点 DC 到 70+ GHz*1 的带宽 业内领先的时基精度 模块化结构，最多八条采集通道 高级抖动、噪声和BER分析 高性能TDR/TDT *1 带宽取决于插件模块，在将来提供更高速度的模块时，带宽可能会超过70 GHz。
DSA8200采样示波器概述
功能
优点
最多4个真实差分通道利用真实的差分TDR激励信号准确地检测非线性设备，如放大器。
高带宽（50 GHz）时域反射仪 以12 ps 的入射级将阻抗不连续性分解至 1mm。
光学模块噪声低，光学灵敏度高，拥有消光比校准功能及宽波长。通过一个光学测试解决方案，满足8.5Gb/s - 40Gb/s所有主要标准。
IConnect? 信号完整性利用集成的TDR和S参数测量减少由测试治具信号降级引起的测量错误。
串行数据网络分析 (SDNA) 通过一个仪器进行时域和频域分析来降低测试成本。准确地分析信号通路以预测信号串扰和抖动，确保可靠的系统运行。
串行数据链路分析 (SDLA) 通过抖动、噪声和BER分析确定眼闭的准确原因。通过快速评估各种FE/DFE均衡设置最大化接收器的眼睁时间。
远程采样头通过将TDR头接近被测试设备来优化信号保真度和最小化探头、电缆及测试治具的影响。
