X射线荧光分析法的未来展望

　　X射线荧光分析法同其他分析技术一样，不是完美无缺的。在物质成分分析中，它对一些最轻元素（Z≤8）的测定还不完全成熟，只能是属于初期应用的阶段。常规分析中某些元素的测定灵敏度不如原子发射光谱法高（采用同步辐射和质子激发的X射线荧光分析除外），根据各个工业部门生产自动化的要求（例如选矿流程中的自动控制分析），X射线荧光分析法正在不断完善中。某些新发展起来的激发、色散和探测新技术还未能得到普遍的推广应用，仪器的自动化和计算机化水平尚待进一步提高。尤其突出的是，在快速分析方面，至今实验室的制样自动化水平仍然是很低的，还不能适应全自动X射线荧光分析仪连续运转的要求。在仪器技术的改进方面，对于常规的X射线荧光分析来说，为提高分析灵敏度，这种改进主要仍决定于激发、色散和探测等三个基本环节。

　　在激发源方面，常规X射线管对轻元素的激发，除铑靶外，还发现钪靶的效率较高。新型的强大的同步辐射源在分析上的应用研究也已开始，在特征X射线外延吸收谱精细结构研究中更引起人们的高度重视。在色散元件方面，随着一些新型晶体，尤其是轻、重元素交替淀积的碳化物多层膜质晶体的发展，在提高衍射效率方面对轻元素分析有可能获得较大的效益。对于超长波X射线色散用的各种分析晶体和光栅，在提高分辨率和扩大应用范围方面，不断取得新的进步。

　　在探测器方面，作为能谱仪的心脏，可以在室温下工作，具有优良能量分辨本领的碘化汞晶体探测器也正在开发之中。可以说，以上仪器三个基本环节的突破，以及仪器结构的不断改进（例如能量与波长色散谱仪的结合等），对于提高仪器的使用水平，必将有很大的促进。