2010年3月，梅特勒-托利多新型超越系列中文密度计/折光率仪在中国正式上市！

新的中文密度计和折光率仪包括5款主机：DM40、DM45 DeltaRange、DM50、RM40、RM50和对应的5款模块：DX40、DX45 DeltaRange、DX50、RX40、RX50。新仪器具有操作更加简单，测量更加安全和模块化组合的特点，并且能够完全自动的同时测定pH值、电导率和色度。同时，在新的LabX™ 2010软件支持下，密度计和折光率仪能够方便的同LIMS/SAP等系统实现无缝连接。

超越系列中文密度计/折光率仪的特点如下：

--  操作简单

中文触摸屏和一键测定使用户能简单、快速、直接的启动常规分析任务，特别是当把常规任务做成清晰的快捷键放在桌面上的时候，而且每一个操作者都有自己个性化的主界面、快捷键和操作语言等。独有的产品/方法概念不需要用户做任何设置就能自动按照测试要求启动测定，测定结果能自动转换成用户定义的单位，如白利糖度或酒精度，同时，精准的条形码扫描功能可以便利的输入样品数据，并确保正确的方法被自动选择。

--  精准高效

完全模块化加上高度灵活的概念使密度计和折光率仪同pH计、电导率仪、色度计完美整合，简单的系统扩展就能同时测定几个参数。强有力的自动进样系统保证整个测量过程完全自动的运行，并最大限度的节约时间和溶剂。全新的LabX™ 2010软件无缝连接LIMS/SAP系统，同时，它有机的整合包括相关数据的样品系列到整个质量控制系统中。

--  安全最大化

使用指纹识别方式进行用户识别和登录控制，以及可靠的可追溯性使LabX™软件非常方便的、完全的满足各行各业的法规要求。全面的检查和自动误差检测功能，以及自动校准验证功能使整个系统非常的安全，进而保证测量结果的准确性。

有关超越系列中文密度计/折光率仪更多的详细信息请见相关样本（51725235，51725240）。

梅特勒-托利多始终致力于技术的不断革新，并为客户提供完美的解决方案，我们相信新型超越系列中文密度计/折光率仪一定会为我们客户的测量带来更多的便利！

梅特勒-托利多中国

2010年2月23日