X射线荧光光谱仪基本参数
1 | 仪器测试范围： | 从硫S-铀U之间的元素 |
2 | 样品种类： | 固体、液体、粉末； |
3 | 最低检出限： | ≤2ppm 成分分析：0.01%--99.99% |
4 | 测试时间： | 60s-200s(软件自动调整) |
5 | 摄像定位系统： | 500万真像素高清定位系统； |
6 | X射线光管： | 窗口材料：金属铍 使用寿命：大于20000小时 |
7 | 探测器： | 生产厂家：美国Amptek 电制冷Si-Pin 探测器 分辨率145ev±5 1mil铍窗厚度 |
9 | 高压电源： | 0-50kev，0-2mA 最大50W |
10 | 高压保护措施 | 过压自保护，自恢复 |
11 | 计算机： | 4G内存，1.6G双核CPU 操作系统：正版Windows7 |
12 | 准直滤光系统： | 光斑大小：φ1mm、3mm、4mm(软件自动选择) 滤光系统：9种3组（软件自动选择） |
13 | 工作环境温度： | 温度 :15-30℃ ；湿度：≤75% （不结露） |
14 | 输入电源： | AC 220V±15%，50Hz |
15 | 仪器尺寸： | 650mm*450mm*350mm |
16 | 测试样品腔尺寸： | 280mm*280mm*200mm |
17 | 辐射防护标准： | 远高于国标GB18871-2002 GBZ115-2002标准 |
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