半导体检测冷热冲击试验箱是怎么测试条件
半导体检测冷热冲击试验箱什么样测试条件才能满足半导体需要？
1. 款式：三箱或两箱（任意选择）
2. 温度冲击范围：高温：（+60～+150）℃/低温：（-65～-10）℃
3.高温区预热温度：+60℃→+180℃
4.低温区预冷温度：-70℃～-10℃
5.试验条件：
GB/T 2423.1-2008 试验A：低温试验方法、GB/T 2423.2-2008 试验B：高温试验方法、 GB/T2423.22-2002 试验N：温度变化试验方法 试验Na
GJB 150.5A-2009 军用设备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
GJB 360A-1996 温度冲击试验、IEC 68-2-14 試驗方法 N ：温度变化
GJB367.2-2001 通信设备通用规范 温度冲击试验
冷热冲击试验箱试验原理分高温区、低温区两部分，测试样品放置在其中一个吊篮工作室内，通过气动方式实现样品在高低温室的切换，完成冷热温度冲击测试。独特之蓄热、蓄冷结构确保试验箱恒温性能良好。
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