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数显薄膜测厚仪的产品用途和技术指标

2021.8.06

  产品用途

  数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

  技术指标

  1.测量范围:(0-25)mm

  2.分辨率:0.001mm

  3.电源:氧化银电池SR44

  4.工作温度:0℃~+40℃

  5.储运温度:-20~+70℃

  6.相对湿度:≤80%

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