数显薄膜测厚仪的产品用途和技术指标
产品用途
数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
技术指标
1.测量范围:(0-25)mm
2.分辨率:0.001mm
3.电源:氧化银电池SR44
4.工作温度:0℃~+40℃
5.储运温度:-20~+70℃
6.相对湿度:≤80%
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