安捷伦7500和7700系列ICP-MS质谱仪均标配碰撞动能歧视（KED）模式，可在简单的单一条件下，即可满足实验人员的日常分析要求。屏蔽炬技术与KED技术的结合，可以有效消除干扰物。如下图所示，待测离子和分子离子干扰以相同的能量进入碰撞反应池，通入氦气，分子离子由于体积较大，受到的碰撞几率大，所以动能损耗大；反之单原子离子体积小、受到的碰撞几率小，动能损耗小，所以两者出离碰撞池口时就会存在动能差，利用该动能差在四极杆前设置截断电压，便可有效地分离干扰物和单原子离子，此方式即为碰撞动能歧视。而屏蔽炬技术在其中的主要作用是使得离子能量集中，因为若离子能量不够集中，干扰物和待测物的离子能量易出现重叠现象，导致不能有效地消除干扰离子。
