扫描式热梯度探针显微镜
扫描式热梯度探针显微镜(Scanning Therma l microscope, SThM)
利用探针悬臂上加镀的电路，工件表面的热梯度会驱动电路产生电流，此电流可被量测得知。在Contact mode 或Tapping mode AFM 操作下，均可在变温控制下操作，观察材质与温度的关系。可提供50 ℃到250 ℃于空气的操作。系统设计上有(1)隔热保护装置，确保扫描仪不受热而尺寸失序。(2)探针温度补偿，使表面温度与输入温度一致。(3)可程序化温控，迅速变。如图7所示得到PP 高分子热度结晶变化之影像。
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