能量分散谱仪的工作原理介绍
利用不同元素X射线光子特征能量不同特点进行成分分析锂漂移硅能谱仪Si(Li)框图加在Si(Li)晶体两端偏压来收集电子空穴对→(前置放大器)转换成电流脉冲→(主放大器)转换成电压脉冲→(后进入)多通脉冲高度分析器,按高度把脉冲分类,并计数,从而描绘I-E图谱。
当特征能量ΔΕ的X射线光子由Si(Li)检测器收集时,在Si(Li)晶体内将激发出一定数目的电子—空穴对。
假定产生一个空穴对的最低平均能量为ε(固定的),则由一个光子造成的空穴对数目为:
N — 一个X射线光子造成的空穴电子对的数目
ε — 产生一个空穴对的最低平均能量
ΔΕ — 特征能量
工作过程
加在Si(Li)晶体两端偏压来收集电子空穴对→ (前置放大器)转换成电流脉冲→ (主放大器)转换成电压脉冲→ (后进入)多通脉冲高度分析器,按高度把脉冲分类,并计数,从而描绘I-E图谱。
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