SENTERRA II能够测量拉曼成像，并将所获取的空间分辨分子结构信息与样品的高质量显微图像结合在一起。用户无需制备和接触样品即可完成分析，并可获取空间分辨率精细至一微米以下的样品表面化学图成像。此外，透光样品的深度剖面分析功能支持对样品进行非破坏性三维检测。SENTERRA II应用广泛，适合用于有机和无机材料的检测、辨别和识别。

药物

• 区分同物质的不同晶型

• 药片中的API和赋形剂分布可视化

• 失效分析：颗粒物和杂质鉴定

聚合物

• 纯聚合物和混合聚合物识别

• 多层膜分析

• 聚合物表征：结晶度、密度、形态

• 判定单体含量、充填剂和添加剂

• 失效分析：杂质识别

涂层和表面

• 研究涂层和表面构成和均匀性

材料学

• 区分非晶硅和微晶硅

• 新型2D材料和碳纳米管表征

法庭科学

• 鉴别取自犯罪现场的痕迹物证，譬如纤维、颗粒物、漆片等

• 艺术品真品鉴别

• 伪造文件、药物和钱币鉴别

• 违禁药物分析

艺术和文化遗产

• 艺术作品材料识别

• 真假古董鉴别

• 艺术品保护、降质和老化研究

生命科学

• 细胞和组织分子结构研究