背景吸收的光散射简介
在原子化过程中,当基体浓度大时,由于热量不足,基体物质不能全部蒸发,一部分以固体微粒状态存在,这些固体微粒,在光路中对光源辐射光产生散射,被散射的光偏离光路,形成假吸收,使到达检测器的光强度减小其结果等价于一个分子吸收叠加在分析元素的原子吸收信号上。
散射对吸收线位于短波区的元素的测定影响较大,当基体浓度高时要注意散射的影响。在原子吸收光谱分析中,由分子吸收和光散射造成的干扰可以采用氘灯或塞曼效应校正背景,也可以采用邻近非吸收线校正背景。
微粒散射光强度与微粒本身的大小和入射光的波长有关。根据微粒的大小可以将光散射分为三类:
(1)当物质微粒的直径比测定波长小10倍时,产生瑞利散射。
光散射对分析线位于短波的元素,如As,Se,Zn,Cd,Ni,Pb等的影响比较大,特别是在样品基体中浓度高,使用长光程火焰工作时,应格外注意光散射的影响。在200nm波长的光散射比300nm处要高5倍,比400nm处大16倍。
(2)当微粒的直径与测定波长同数量级时,产生的光散射称为Mie散射。散射光强度随粒子增大而增强,它与波长的关系较复杂。在石墨炉原子吸收光谱分析中,微粒的散射主要是Mie散射。
(3)当微粒的直径比测定波长大很多时,光散射与波长无关。此时在光路中只能起到挡光的作用。在石墨炉原子吸收光谱分析中,当使用的石墨管质量欠佳时,特别是测定高温元素时,从石墨管壁剥落石墨微粒就属这一类。
石墨炉原子吸收光谱分析中的光散射通常要比分子吸收小得多,分子吸收与光散射引起的干扰,最有效的消除方法是背景校正。
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