X射线荧光光谱法的简介
X射线荧光光谱法正是基于以上物理学原理而产生的，从X射线管产生X射线，X射线经过滤或单色化处理入射样品，入射样品X射线与物质相互作用，产生的元素特征X射线荧光，进入探测器记录其强度，能量色散型探测器的各种效应。都有可以遵循的X射线荧光的物理学理论，而这些明确的物理学理论，有大量的规律可循，进而可以建立理论数据库，譬如基本参数库等，也可以将明确的物理学现象数学模型化，利用软件技术，形成针对X射线荧光整个物理过程强大的计算软件。
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X射线荧光光谱法正是基于以上物理学原理而产生的，从X射线管产生X射线，X射线经过滤或单色化处理入射样品，入射样品X射线与物质相互作用，产生的元素特征X射线荧光，进入探测器记录其强度，能量色散型探测器的各种效应。都有可以遵循的X射线荧光的物理学理论，而这些明确的物理学理论，有大量的规律可循，进而可以建立理论数据库，譬如基本参数库等，也可以将明确的物理学现象数学模型化，利用软件技术，形成针对X射线荧光整个物理过程强大的计算软件。
