邀请函 | TESCAN与上交大分测中心联合举办“扫描电镜-原子力联用技术(CPEM)交流会”
TESCAN 公司一直以扫描电镜为基础平台努力扩展多种分析功能,构建 All-IN-One 综合显微分析系统。
目前TESCAN已经在扫描电镜上集成拉曼光谱,可以对碳结构、官能团、同素异形、结晶度、应力等多种微观性质进行进一步的表征;而在双束平台上,TESCAN 也成功集成了 TOF-SIMS,很好的解决了包括 H、Li 在内的轻元素的高空间分辨的分析问题,另外在深度方向也有纳米级的分辨率,也很好的解决了纳米膜层的分析。
日程安排:
9:30 ~ 10:00 TESCAN All-IN-One 综合微分析
系统简介
演讲人:顾群
10:00~ 11:30 扫描电镜-原子力联用技术及应用
演讲人:Dr Jan Neuman
11:30~13:30 午餐
13:30~16:30 演示
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