TESCAN（中国）
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直播预告 | 通过独特的纳米机械手制备TEM薄片，想切哪儿就切哪儿
【直播介绍】
众所周知，TEM/ STEM表征的成功受样品的整体质量直接影响：
如何制备足够薄的样品？
是否无伪影和无损坏？
是否精确捕获感兴趣的特征部位？
这些都是在准备TEM薄片时值得关注的问题。
通常，复杂的新材料由许多软相和硬相、不同的晶体取向或空心结构组成。通过 传统的"自上而下"FIB-SEM制备工艺通常会导致薄片出现：不均匀的抛光，表面划痕以及损坏。显然，对于这些新型材料，样品厚度并不是考虑的唯一要素，您还需要其他技术，例如：“倒切”或“平切”- 可以将TEM试样旋转到您想抛光的方向进行制样，从而减少伪影的产生。
TESCAN FIB-SEM方便您在制备过程中自由更改采样的方向。获得专利的硬件设计在FIB镜筒下方，集成了带一个有旋转功能的纳米机械手，以便对 TEM 样品进行直观的多维度调整。想切哪就切哪，比如，旋转 X 轴 90° ，做平面薄片制备；又或在 Y 轴中进行 180° 旋转，以制备倒置薄片。所有这些高阶动作都简单易操作，无需引入特殊硬件或其他复杂的步骤即可完成。
通过本次网络研讨会中，您将看到：
样品制备中的各种挑战示例；
如何通过专利的纳米机械手和其独特的位置，来解决这些挑战；
如何实现精确捕获感兴趣的特征部位来完成平面薄片的制备。
即刻扫描下方二维码，注册本次直播。
【直播时间】
报名方式
【直播讲师】
Martin Slama
FIB-SEM 3D表征及TEM样品制备专家
【更多：双束电镜理论讲座】
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