芯片或测序数据经过标准化处理后，在一个二维直角坐标系平面中，绘制散点图。芯片数据的散点图常用于评估两组数据总体分布集中情况。散点图中每一个点代表芯片上的探针点，该点在二维平面中的位置根据其在不同组中的表达量，由X轴和Y轴坐标确定。

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