轨道交通电子元器件失效分析

广电计量轨道佳通电器元器件失效分析是指借助各种测试分析技术和方法确认电子元器件的失效现象，分辨其失效模式和失效机理，确认失效根因，提出设计和工艺改进建议，防止失效的重复出现，提高元器件可靠性的有效手段。

服务范围

IGBT、IC集成电路、微机电器件

检测标准

GJB548微电子器件试验方法和程序

检测项目

（1）常见检测项⽬：3DX 射线检查、声学扫描检查、开封、IC 取芯片、芯片去层、衬底检查、扫描电镜检查、PN结染⾊、DB FIB、热点检测、漏电位置检测、弹坑检测、粗细捡漏、ESD 测试

（2）常⻅失效模式分析：静电损伤、过电损伤、键合异常、封装异常、散热异常、电参数漂移

相关资质

CNAS

服务背景

随着动车及高速列车电控性能的提升，其使用的电子元器件占比越来越高。一方面，为保证动车及高速列车的运行可靠性，需要对所使用的电子元器件进行充分的性能摸底，以熟悉产品性能及预期寿命。另一方面，列车运行过程中一旦出现电子元器件失效，将可造成灾难性的损失；而为满足电子元器件高功率、高负载、高性能的要求，列车上多使用进口集成电路芯片，因检测手段匮乏、分析方法空白，其失效问题常常受制于国外供应商。

我们的优势

广电计量通过与华为、海思等国内集成电路芯片厂的深度合作，不断提高自身芯片类检测硬件实力及分析软件实力。具备分析芯片14nm及以上工艺能力，同时可以将问题锁定在具体芯片层或者um范围内。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途