第三代半导体作为一种理想的半导体材料，在新一代信息技术、新基建等领域得到了愈发广泛的应用。对于国内企业而言，要获取市场信任，检测是证明第三代半导体质量与可靠性的可行手段，同时也是提高其质量可靠性的重要保障。广电计量特意推出第三代半导体可靠性验证与评价服务，助力企业产品高效发展。

服务背景

在第三代半导体的代表中，碳化硅（SiC）、氮化镓（GaN）目前是技术较为成熟的材料，优越的性能使其在新一代运动通信、新能源并网、智能电网、高速轨道交通、新能源汽车、消费类电子等领域具有广泛的应用前景。SiC、GaN器件凭借杰出的系统性能，给许多应用带来更高的效率和功率密度，以及更低的系统成本。然而，与所有的新技术一样，SiC、GaN器件必须全面严格地遵循技术开发和产品质量检验程序。

服务内容

广电计量围绕JEDEC系列标准，从三方面进行技术能力布局：

1、识别潜在的失效模式和失效机制，并根据目标寿命设计确认测试；

2、将样品置于适当的可靠性应力下，以加速激发潜在的失效机制；

3、完成加速应力后，对样品进行测试，以确定其性能是否仍可接受。

针对SiC分立器件和模块，广电计量参照JEDEC、AECQ101及AQG324标准进行检测验证，能力不仅覆盖用于验证传统Si器件长期稳定性的所有方法，还开发了针对SiC器件不同运行模式的特定试验，见表1。

表1 SiC器件特定可靠性试验

CaN器件的质量及可靠性验证以JEDEC和AECQ101为基准进行，见表2，并针对GaN器件和Si基器件之间的差异实施表3试验。

表2 通用可靠性试验

表3 CaN器件特定试验

第三代半导体可靠性验证与评价信息由广州广电计量检测股份有限公司为您提供，如您想了解更多关于第三代半导体可靠性验证与评价报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途