Cary 7000 UMS 可使用 s 和 p 偏振光，在较宽AOI 范围内自动采集大涂层样品的高质量光谱图。测试过程完全由软件控制，一旦样品安装完毕，便可进行完全自动的数据采集。以宽的波长范围，宽 AOI 范围和不同偏振光对样品进行完整表征，使我们能更深入的了解光学涂层的角度关系。此外，使用三维和二维等高线图对数据进行可视化，可深入了解光学涂层性能。这些有价值的信息有助于涂层的设计和优化。